引用本文:吴庆林,陈宗海,张陈斌.磁场控制下的电子自旋量子系统参数辨识[J].控制理论与应用,2010,27(6):683~687.[点击复制]
WU Qing-lin,CHEN Zong-hai,ZHANG Chen-bin.Identification of quantum system parameters of the electron spin system controlled by magnetic field[J].Control Theory and Technology,2010,27(6):683~687.[点击复制]
磁场控制下的电子自旋量子系统参数辨识
Identification of quantum system parameters of the electron spin system controlled by magnetic field
摘要点击 1727  全文点击 1628  投稿时间:2009-01-14  修订日期:2009-09-09
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DOI编号  10.7641/j.issn.1000-8152.2010.6.CCTA090044
  2010,27(6):683-687
中文关键词  量子层析  量子过程层析  量子系统辨识  量子控制系统
英文关键词  quantum tomography  quantum process tomography  quantum system identification  quantum control
基金项目  国家自然科学基金资助项目(60804020).
作者单位E-mail
吴庆林 中国科学技术大学 自动化系  
陈宗海* 中国科学技术大学 自动化系 chenzh@ustc.edu.cn 
张陈斌 中国科学技术大学 自动化系  
中文摘要
      了解量子控制系统的性能参数是设计精确控制器的基础. 为解决这一问题, 本文基于量子过程层析, 提出了辨识量子控制系统参数的方法, 设计了以电子自旋磁场控制系统为对象的具体实验方案, 并利用计算机仿真技术对其进行了模拟. 仿真结果表明, 辨识得到的量子控制系统参数与理论值较为吻合, 达到了预定的准确度指标. 结合理论分析和仿真结果可知, 利用量子过程层析可以有效实现量子控制系统的参数辨识.
英文摘要
      The knowledge of the performance parameter of the quantum control system is crucial to the design of an accurate controller. Based on the quantum process tomography, we propose a method for identifying quantum control system parameters. The identified parameters are employed in the specific programs for designing the magnetic field control in an electron spin system. Computer simulations are carried out for the programs. The results show that the identified values of quantum control system parameters are comparatively consistent with the theoretic values with desired accuracy. Theoretical analysis and simulation results validate the effectiveness in applying the quantum process tomography to the identification of the quantum control system parameters.